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一、測(cè)量介質(zhì)損耗角正切值tgδ有何意義?介質(zhì)損耗角正切值又稱(chēng)介質(zhì)損耗因數(shù)或簡(jiǎn)稱(chēng)介損。測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)是一項(xiàng)靈敏度很高的試驗(yàn)項(xiàng)目,它可以發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積被試設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。例如:某臺(tái)變壓器的套管,正常tgδ值為0.5%,而當(dāng)受潮后tgδ值為3.5%,兩個(gè)數(shù)據(jù)相差7倍;而用測(cè)量絕緣電阻檢測(cè),受潮前后的數(shù)值相差不大。
由于測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)對(duì)反映上述缺陷具有較高的靈敏度,所以在電工制造及電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都得到了廣泛的應(yīng)用。變壓器、發(fā)電機(jī)、斷路器等電氣設(shè)備的介損測(cè)試《規(guī)程》都作了規(guī)定。
過(guò)濾器檢測(cè)儀,過(guò)濾器完整性測(cè)試儀,有機(jī)碳檢測(cè),有機(jī)碳分析儀,TOC分析儀,塑料摩擦磨損檢測(cè),摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),材料電阻率測(cè)試儀,絕緣材料電阻率測(cè)試,
二、當(dāng)前國(guó)內(nèi)介損測(cè)試儀的現(xiàn)狀及技術(shù)難點(diǎn)?
介質(zhì)損耗測(cè)試儀的技術(shù)發(fā)展很快,以前在電力系統(tǒng)廣泛使用的QS1西林電橋正被智能型的介質(zhì)損耗測(cè)試儀取代,新一代的介質(zhì)損耗測(cè)試儀均內(nèi)置升壓設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)電容,并且具有操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、試驗(yàn)結(jié)果讀取方便等特征。雖然目前介損測(cè)試技術(shù)發(fā)展很快,但與國(guó)際水平相比,在很多方面仍有很大差距,差距主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
(1)抗干擾能力
由于介質(zhì)損耗測(cè)試是一個(gè)靈敏度很高的項(xiàng)目,因此測(cè)試數(shù)據(jù)也極易受到外界電場(chǎng)的干擾,目前介質(zhì)損耗測(cè)試儀采取的抗干擾方法主要有:倒相法、移相法、異頻法等。雖然這些方法能在一定程度下解決干擾的問(wèn)題,但當(dāng)外界干擾很強(qiáng)的情況下,仍會(huì)產(chǎn)生較大的偏差。
(2)反接法的測(cè)試精度問(wèn)題
現(xiàn)場(chǎng)很多電力設(shè)備均已接地,因此必須使用反接法進(jìn)行檢測(cè),但反接時(shí),影響測(cè)試數(shù)據(jù)的因素較多,往往數(shù)據(jù)會(huì)有很大偏差,特別是當(dāng)被試品容量較小(如套管),高壓導(dǎo)線(xiàn)拖地測(cè)試時(shí)(有些介質(zhì)損耗測(cè)試儀所配高壓導(dǎo)線(xiàn)雖能拖地使用,但對(duì)地泄漏電流較大),會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試的準(zhǔn)確度。
絕緣電阻檢測(cè)儀,絕緣電阻測(cè)試儀,介電常數(shù)測(cè)試儀,介質(zhì)損耗測(cè)試儀,耐電弧試驗(yàn)機(jī),耐電弧試驗(yàn)儀,電壓擊穿試驗(yàn)機(jī),電壓擊穿試驗(yàn)儀
標(biāo)題:介質(zhì)損耗測(cè)試儀的常見(jiàn)問(wèn)題都有哪些?
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